日本顕微鏡学会第74回学術講演会

会場:
久留米シティプラザ, 日本
日付:
2018年5月29日 - 2018年5月31日
参加する事業部:
分析機器事業部

■ランチョンセミナー

昨年は業界初CMOS搭載EBSD検出器Symmetry、ライブでのX線イメージングを実現したAZtecLive/UltimMaxと、新製品を続けて発売しました。今年のテーマは「高速分析」です。最新の「Speed!」を最新のハードウエアでご紹介します。

「Speed Matters! ~X線ライブイメージングの転換期~」

2018年5月29日(火)

12:00~13:00
久留米シティプラザ
G会場(5階 大会議室2)


■学術講演

5月29日(火) 17:00~17:15
口演番号 1pF_I8-12
「CMOS素子を用いたEBSD検出器での高速・高分解能分析の可能性」
Trimby Pat, Goulden Jenny, 森田 博文, Bewick Angus
F会場にて


■併設機器展示(学会期間中)

5月29日(火)~5月31日(木)
久留米シティプラザ 2階 ロビー