Oxford Instruments Industrial Analysis is now part of Hitachi High-Technologies Group.

エレクトロニクス - より良いプロセス管理と生産性の向上

  • 例えば電気接点の金とパラジウムの厚さの解析、金/ニッケル/銅など
  • Ag / Cu系/エポキシなどのプリント回路基板上のはんだ付け性の測定など

金属仕上げ - メッキ工程の最小限の生産コストで最大限の生産量を実現

  • マルチサンプルとマルチポイント分析
  • 単一または複数の層の膜厚測定
  • メッキ浴の分析

貴金属 / 合金金属 - ジュエリーや他の合金を迅速に非破壊分析

  • 金や他貴金属のカラット分析
  • 正確な金属合金分析

コンプライアンス・テスト -  製品が仕様に適合しているか確認

  • ppmレベルから高レベルの有害物質の定量
  • 有害元素の定量には、例えば、カドミウム、水銀、鉛などが適合しているか確認
  • IEC62321に従って認証スクリーニング
  • 航空宇宙用高信頼性テスト - 鉛はんだの確実な識別

代替エネルギー - 製品の効率性と均一性を確保

  • 薄膜太陽電池 - 薄膜吸収体層の組成分析(例えば、CIS、CIGS系は、CdTeなど)
  • 層の厚さの分析を通して、最適化された電気伝導性