TEM用SDD検出器のフラッグシップ X-MaxN 100TLEは、ナノサイエンスの最先端で稼働する電解放出型そして収差補正型TEMに完全なソリューションを提供いたします。

X-MaxN 100TLEは、新しいセンサー形状、ウィンドウレス構成、革新的な機械設計を有し、「次世代」SDDの性能を提供いたします。これは全ての元素に対する感度に他に匹敵するものがないほどの性能強化をもたらします。

例えば…:

  • 従来の検出器と同じ収集条件でも、より低濃度の元素を検出します。
    • ナノスケールで不純物やドーパントを解析します。
  • ビームが敏感な試料を傷つける前により多くのデータを収集します。
    • ナノパーティクルやナノチューブをより詳細に解析します。

優れたパフォーマンス

  • ナノスケールやピコスケールでのカウントレートを最大化します。
  • 特長的なセンサーデザインは極めて高い立体角で100mm2の有効エリアを試料に近づけます。
  • ウィンドウレス設計は全ての元素に対する最高感度を他の追随を許さない低エネルギーX線の検出を確かにします。
  • 正確なパイルアップ補正で、100Kcps以上における正確な定量分析を実行します。

優れた実用性

  • 簡単な新規据付と既存の電子顕微鏡カラムへのレトロフィット
  • 電子線流束ダメージからの保護のため、フラップで自動格納
  • 圧力センサーが真空度低下時に検出器を自動で保護します。
  • 液体窒素不要
  • 立体角最適化のためのサンプル傾斜不要

全てのTEMナノアナリシス向けに適し、特に半導体、バイオ、その他電子ビームに敏感な材料で唯一の選択肢です。

 

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