エレクトロニクス - より良いプロセス管理と生産性の向上
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例えば電気接点の金とパラジウムの厚さの解析、金/ニッケル/銅など
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Ag / Cu系/エポキシなどのプリント回路基板上のはんだ付け性の測定など
金属仕上げ - メッキ工程の最小限の生産コストで最大限の生産量を実現
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マルチサンプルとマルチポイント分析
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単一または複数の層の膜厚測定
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メッキ浴の分析
貴金属 / 合金金属 - ジュエリーや他の合金を迅速に非破壊分析
コンプライアンス・テスト - 製品が仕様に適合しているか確認
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ppmレベルから高レベルの有害物質の定量
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有害元素の定量には、例えば、カドミウム、水銀、鉛などが適合しているか確認
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IEC62321に従って認証スクリーニング
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航空宇宙用高信頼性テスト - 鉛はんだの確実な識別
代替エネルギー - 製品の効率性と均一性を確保
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薄膜太陽電池 - 薄膜吸収体層の組成分析（例えば、CIS、CIGS系は、CdTeなど）
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層の厚さの分析を通して、最適化された電気伝導性