• コンタクトモード
  • DART™ PFM
  • デュアルAC™
  • デュアルAC共振トラッキング (DART; Dual AC Resonance Tracking)
  • 電気力顕微鏡 (EFM; Electric force microscopy)
  • フォース・カーブモード
  • フォース・マッピングモード (フォースボリューム)
  • フォース・モジュレーション
  • 周波数変調
  • ケルビン・プローブ・フォース顕微鏡 (KPFM; Kelvin probe force microscopy)
  • 水平力モード (LFM; Lateral force mode)
  • ロスタンジェントイメージング
  • 磁気力顕微鏡 (MFM; Magnetic force microscopy)
  • マイクロアンジェロ (MicroAngelo™) (ナノリソグラフィ/ ナノマニピュレーション)
  • 位相イメージング
  • ピエゾ応答フォース顕微鏡 (PFM; Piezoresponse force microscopy)
  • スイッチング・スペクトロスコピーPFM
  • タッピングモード (ACモード)
  • Q値制御付タッピングモード (ACモード)
  • ベクトルPFM