Atomic Force Microscopy System

アサイラム リサーチは原子間力顕微鏡(AFM)のテクノロジーリーダーです。すべてのアサイラム リサーチAFMは業界最高の高信頼性のカスタマーサポート、および保証を受けられることを含め、他に例を見ない性能および多機能性を特長としています。研究に最適な原子間力顕微鏡を見出すことが大切です。顕微鏡は多岐にわたり、そしてAFMは全てがすべて同等ではありません。正しい選択により、より生産性を上げることができ、研究をより前進させることができます。アプリケーションあるいは予算がどうであれ、アサイラム リサーチのAFMにお任せください。世界の先導的な研究室がなぜアサイラム リサーチのAFMを選択したのかをご確認ください。

アサイラム リサーチAFMは下記を含むアプリケーションにおいて、広く利用されています:

  • ポリマーおよび材料科学
  • 圧電体および強誘電体
  • 薄膜およびコーティング
  • 磁気およびデータストレージ
  • 光起電力 / 太陽光発電 / エネルギー貯蔵 / 電気化学
  • マイクロエレクトロニクスおよびナノエレクトロニクス
  • バイオサイエンスおよび生物物理学
  • 細胞生物学 / 細胞メカニクス / メカノバイオロジー
  • 分子生物学および構造生物学
  • 単分子フォーススペクトロスコピー / タンパク質のアンフォールディング

アサイラム リサーチAFMはあらゆる機能を提供できます:

  • 高分解能形状測定 – 単一の原子欠陥から最大90 μmスキャン
  • ナノメカニカル特性の測定 – 貯蔵および損失弾性率
  • サーマル特性の測定 – 温度および熱遷移
  • 電気特性の測定 - 電流、抵抗/導電率、 キャパシタンス/誘電率
  • 圧電体の応答および特性の測定
  • 密閉またはかん流した、ガスおよび液中での操作
  • サブ-ppmグローブボックス状態から>98%RH までの湿度制御下での操作
  • -30°Cから400°Cまでのサンプル温度制御
  • 電界印加: 最大220 V
  • 磁場印加: 最大0.8テスラ
  • 機械的歪みの印加: 最大80 N

アサイラム リサーチAFMは標準およびオプションモードの幅広いレンジが特長です:

  • コンタクトモード
  • 水平力モード(LFM; Lateral Force Mode)
  • ACモード(タッピングモード)
  • 位相イメージング
  • デュアル AC™モード
  • マイクロアンジェロ(MicroAngelo) (ナノリソグラフィ/ ナノマニピュレーション)
  • 電気力顕微鏡(EFM; Electric Force Microscopy)
  • ケルビン・プローブ・フォース顕微鏡(KPFM; Kelvin Probe Force Microscopy)
  • 磁気力顕微鏡(MFM; Magnetic Force Microscopy)
  • ピエゾ応答フォース顕微鏡(PFM; Piezoresponse Force Microscopy)
  • ベクトルPFM
  • スイッチング・スペクトロスコピーPFM
  • デュアル AC共振トラッキング(DART; Dual AC Resonance Tracking)
  • Q 制御付ACモード
  • フォース・カーブモード
  • フォース・マッピングモード(フォースボリューム)
  • ロスタンジェント(Loss Tangent)イメージング
  • ORCA™ およびEclipse™ モードでのコンダクティブAFM(CAFM)
  • AM-FM粘弾性マッピング
  • コンタクト共振粘弾性マッピング
  • iDrive™ (アイドライブ)(磁気駆動液中ACモード)
  • 走査型トンネル顕微鏡(STM; Scanning Tunneling Microscopy)
  • フォース・モジュレーション
  • 走査型サーマル顕微鏡(SThM; Scanning Thermal Microscopy)
  • バンド励起