アサイラム リサーチ事業部よりウェブセミナーのご案内 「AFMによる二次元物質のキャラクタライゼーション」
2016年11月22日


アサイラム リサーチ事業部よりウェブセミナーのご案内
「AFMによる二次元物質のキャラクタライゼーション」

このウェブセミナーは、デバイス製造やエネルギー貯蔵、オプトエレクトロニクスにおいて、より高い分解能、すぐれた感度および、より定量的な結果を可能にする、二次元材料のキャラクタライゼーション向けAFMの、パワフルな最新のテクニックについて取り上げます。スイス連邦工科大学ローザンヌ校(EPFL)の准教授であるAndras Kis博士および、アサイラム リサーチのアプリケーションサイエンティストであるKeith Jonesが、下記のトピックスにまつわるAFM測定のノウハウや課題について講演いたします。実例を紹介するとともに、二次元物質のシングルレイヤやマルチレイヤの厚みを正確に決定するために、現在AFMがどのように使われているかについて取り上げます。これは、AFMが二次元物質の厚みを正確に測定する用途には使用できないという思い込みへの挑戦でもあります。

「AFMは、最初に単層グラフェンの確認をするために使用されたことから、二次元物質の研究において重要な役割を演じています。今日のAFMはさらにパワフルで、より高い空間分解能やより速いイメージングレート、よりすぐれた環境制御、物性をマッピングするために高度化されたモードが備わっています。AFMは幅広いアプリケーションのための、未来の二次元物質の開発において、これからも重要な役割を果たし続けるでしょう。このウェビナーは、このアクティブな研究分野において、AFMツールがどのように使われているかを知るための素晴らしい機会になるでしょう。」とアサイラム リサーチのアプリケーションマネージャーであるJason Liは述べています。

深夜の時間帯ではございますが、ご参加をご検討いただけますと幸いです。
また、このウェブセミナーは録画されますので、後日お好きな時間にご視聴いただけます。リアルタイムでご視聴されない場合でも、参加登録をしていただくと、録画版の準備ができた段階でご案内が届きます。

なお、過去のウェブセミナーにも録画がございますので、ぜひご利用ください。

日時: 日本時間2016年12月14日(水) 午前1時より(December 13, 2016, 11:00am EST)

内容:
  • 二硫化モリブデンとグラフェン
  • メカニカル特性の測定
  • トランジスタのケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)
  • エレクトロメカニカル測定
  • コンダクティブAFM
  • 走査型マイクロ波顕微鏡(sMIM)AFMプローブの基礎と校正
このウェブセミナーはこちらよりお申込みいただけます。
 
 
CVD成長によるサファイア上のMoS2単結晶のAFM形状イメージ。
イメージ提供:A.Kis 氏。出典はACS Nano, 2015, 9(4), pp 4611-4620。

 

さらに詳しい情報については下記までお問い合わせください。

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
アサイラム リサーチ事業部
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