オックスフォード・インストゥルメンツ アサイラム リサーチ事業部はMaterials Todayと共同でウェビナーを開催します。
2016年5月24日


オックスフォード・インストゥルメンツ アサイラム リサーチ事業部は
Materials Todayと共同でウェビナーを開催します。
“More Than Just Roughness: AFM Techniques for Thin Film Analysis”

オックスフォード・インストゥルメンツ アサイラム リサーチ事業部は、日本時間2016年6月2日午前0時(2016年6月1日11:00 am EDT)に、Materials Todayと共同で、“More Than Just Roughness: AFM Techniques for Thin Film Analysis”を題目としたウェビナーを開催いたします。このウェビナーでは、薄膜材料のキャラクタリゼーションにおける最新の原子間力顕微鏡(AFM)の強い可能性を探り、また、走査スピードや感度、および操作性における近年の進歩についてレビューします。講義では、幅広い実用的なアプリケーションを浮き彫りにするような例と共に、薄膜材料における電気物性、機械物性、その他の機能物性の応答に関する評価法について紹介いたします。それには、半導体産業で用いられるデバイスに関する応用についても含まれます。Lark Scientificの創設者であり、前NIST(National Institute of Standards and Technology;アメリカ国立標準技術研究所)プロジェクトリーダーのDonna Hurley博士、およびIBMアルマデン研究所(カリフォルニア)のスタッフメンバーであるKumar Virwani博士、この著名なお二方により講演が行われます。

“AFMはナノスケールのイメージングや解析に幅広く用いられており、薄膜やコーティングの先端的な研究を行う上で不可欠なツールとなっています。”とアサイラム リサーチのアプリケーションマネージャーであるJason Liは述べています。“非常にエキサイティングなことは、基本的な3D形状測定やラフネス解析だけでなく、電気物性や機械的特性(貯蔵弾性率や損失タンジェント)を計測する定量的な測定モードなど、多くの物性測定が今日使用可能であることです。また、Cypherのような最先端のAFMを用いると、その高分解能・高速スキャン機能により、広範囲な材料の動的なプロセスを容易に捉えることができます。洞察力に富んだこのウェビナーでは、薄膜特性のための最新のAFM技術についてさらに学びたい大学や企業のサイエンティストの方にとって有益な情報を得ることが可能です。”

ウェビナーは下記よりお申込みいただけます。
http://bit.ly/TFAFMWebinar2016
 
この3Dは形状変化を示しており、カラーは0.5% Nb 添加(001) SrTiO3 の基板上に形成された(001) Bi(Fe0.5Mn0.5)O3 (BFMO)膜に対する探針-サンプル間の電流の相違を示しています。コンダクティブAFM(CAFM)モードで取得し、そのイメージは、結晶粒(黄-白)の境界は、結晶内部(紫)に比べて導電性がかなり高いことを明らかに示しています。BFMO膜が示すマルチフェロイックでスピンガラス的な特性は、新規電子デバイスの創製において魅力的な特長になります。スキャンサイズは1μm、MFP-3D AFMでイメージを取得。サンプル提供:バルセロナ大学応用物理学・光学部、薄膜スピントロニック表面グループのご好意によります。
 

さらに詳しい情報については下記までお問い合わせください。

アサイラム リサーチ事業部
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
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