アサイラム リサーチ事業部よりJASIS2016新技術説明会のご案内
2016年8月23日


アサイラム リサーチ事業部よりJASIS2016
新技術説明会のご案内


アサイラム リサーチ事業部より、9月7日から幕張メッセにて開催されるJASIS2016の展示と新技術説明会についてご案内いたします。

JASIS2016 新技術説明会

9月初旬に幕張メッセにてJASIS2016が開催。ブース出展と新技術説明会で参加します。

新技術説明会は2セッション、AFMを用いた機械特性評価と電気特性評価技術について紹介いたします。

AFMは、形状観察に加えて表面の様々な物性情報をナノメートル分解能で取得できるのが大きな特長です。アサイラムではこれらの物性イメージングについても、定量性や再現性を追求し革新的な新技術を次々と市場に導入してまいりました。今回の新技術説明会ではその詳細についてご紹介いたしますので、ぜひご参加下さい。主な内容は以下の通りです。

「アサイラムAFMを用いた最新ナノメカニクス計測技術」
9月8日(木) 13:50~14:15
アパホテル&リゾート<東京ベイ幕張>2階 A-3
  • 従来からメカニクス特性評価法として使われてきたフォースカーブモード、フォースマッピングモードについて、定量性・再現性を高めるための技術・機能をご紹介いたします。
  • フォースマッピングモードは測定に時間を要します。より高速に粘弾性マッピング評価を行うためにアサイラムでは、高速フォースマッピングモード、AM-FM粘弾性マッピングモード、コンタクト共振粘弾性マッピングモードを独自に開発、製品化いたしました。各モードの特長を測定例を交えながらご紹介いたします。


 

「アサイラムAFMによるナノ電気特性評価の最新技術」
9月9日(金) 15:50~16:15
アパホテル&リゾート<東京ベイ幕張>2階 A-2
  • 走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡はカンチレバーを通じてマイクロ波を入射し、その反射マイクロ波が試料の局所的な誘電率(ε)および導電率(σ)によって変化することを利用します。半導体やグラフェン等の測定例をご紹介いたします。
  • 強誘電体材料の圧電応答イメージング技術(ピエゾ応答フォース顕微鏡)について、アサイラムの特許技術であるデュアルAC共振トラッキング(DART)にて微細な圧電応答を増幅し、従来は困難だった圧電応答の小さい材料の評価が可能になりました。その技術及び測定例をご紹介いたします。
  • 電気化学ストレイン顕微鏡はLiイオン電池正極材の電界印加時のひずみを局所的に評価する弊社独自のユニークな手法です。測定例を交えてご紹介いたします。

また、オックスフォード・インストゥルメンツ(株)の展示ブースにて、Cypher ES原子間力顕微鏡システムの実機を展示しております。
Cypher ESは最高分解能、高速スキャニング、最高の環境制御、および非常に優れた生産性を有するAFMです。また、理想的なカンチレバー応答を示すフォトサーマル励振blueDrive機能は、Cypher独自の機能でリリース以降高い評価をいただいています。
 




 
また、MFP-3Dファミリーのフラグシップモデルである新製品のMFP-3D Infinityや、入門モデルのMFP-3D Originのご案内もしておりますので、お気軽に弊社説明員にお声掛けください。

「JASIS2016 未来発見」
2016年9月7日(水)~9日(金) 10:00~17:00
幕張メッセ国際展示場(千葉県千葉市美浜区中瀬2-1)
8ホール 8A-301
http://www.jasis.jp/

新技術説明会
「アサイラムAFMを用いた最新ナノメカニクス計測技術」
9月8日(木) 13:50~14:15
アパホテル&リゾート<東京ベイ幕張>2階 A-3
「アサイラムAFMによるナノ電気特性評価の最新技術」
9月9日(金) 15:50~16:15
アパホテル&リゾート<東京ベイ幕張>2階 A-2
 

さらに詳しい情報については下記までお問い合わせください。

アサイラム リサーチ事業部
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
〒140-0002 東京都品川区東品川 3-32-42 ISビル
Tel: +81 (0) 3 6732 8969
Fax: +81 (0) 3 6732 8939
Email: sales.asylum.jp@oxinst.com

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