“薄膜のAFMによる特性評価: 高分解能形状と機能特性”のアプリケーションノートを発表
2015年9月3日

“薄膜のAFMによる特性評価: 高分解能形状と機能特性”の

アプリケーションノートを発表

薄膜は材料科学やテクノロジーの分野に広く浸透しており、強誘電性データストレージといった次世代の新材料から食品包装などの日常品に至るまで、あらゆるところで利用されています。薄膜の固有次元(厚さ、グレイン、ドメインサイズ等)や、その性能の膜特性への強い依存性から、ナノスケールの分解能を有するツールが求められます。薄膜の粗さや均一性の測定は、今日、AFMで行われている最も一般的な測定のひとつです。材料がより複雑化するにともない、AFMもまた、機械的、電気的、電気機械的、そして磁気的な特性といった薄膜の機能特性評価を行うために利用されています。

このアプリケーションノートでは、アサイラムリサーチのCypher™MFP-3D™ AFMがこの分野で利用されている多数の手法について解説するとともに、実際の現場において、薄膜材料の研究や開発をサポートできる、AFMの実用情報を提供しているいくつかの事例に焦点を当てています。
 
アプリケーションノート ダウンロード(英文)
 
薄膜やコーティングの研究用途に新しいAFMをお探しですか?

アサイラムAFMをお買い求めになる絶好のチャンスです。下記の特別キャンペーンや価格についての詳細は、お問い合せ下さい:
  • 旧型AFM(メーカー不問)を200万円以上で下取りし、新しいアサイラムAFMを納入いたします。
  • Cypher ES ポリマーエディションは、ポリマー研究者向けに特化した新構成システムです。特別価格キャンペーン実施中で、2015年末までに納入可能(条件付)です。

粗い基板上の薄膜片のグラフェンおよびボロンナイトライドのケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)イメージ。
 
ポリスチレン‐ポリブタジエン‐ポリスチレン(PS-PB-PS)トリブロックコポリマー膜の溶媒蒸気アニーリング。動画再生はこちら
 
パルスレーザー堆積(PLD)法による、強磁性FePt膜成長の磁気力顕微鏡(MFM)での評価。

さらに詳しい情報については下記までお問い合わせください。

アサイラム リサーチ事業部
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
〒140-0002 東京都品川区東品川 3-32-42 ISビル
Tel: +81 (0) 3 6732 8969
Fax: +81 (0) 3 6732 8939
Email: sales.asylum.jp@oxinst.com

© Copyright 2015 Oxford Instruments.