アサイラムAFMセミナー開催のご案内 「アサイラムAFMが提供する高分子界面のナノメカニクス計測と環境制御ソリューション」
2015年10月23日


アサイラムAFMセミナー開催のご案内
「アサイラムAFMが提供する高分子界面の
ナノメカニクス計測と環境制御ソリューション」

来月11月20日(金) に東京本社で開催いたします、アサイラムAFMセミナーのご案内です。
本セミナーは高分子界面の機械特性評価および環境制御に焦点をあて、様々な計測手法について紹介いたします。

アサイラムリサーチは、AFMによるナノメカニクス計測において、創立時よりその定量性・再現性の高度化を追究するとともに、一つだけの計測手法に依存することなく、対象材料や用途に応じて複合的な解析や使い分けができるよう、多彩な手法を開発・提供してきました。私たちはその概念をNanomechPro™Toolkitと呼んでいます。また、お客様からの多様なニーズに答え、様々な環境制御機能を製品化しております。

そこで今回は、高分子界面の機械特性評価と環境制御にフォーカスした技術セミナーを開催します。

セミナーでは、多彩な手法の中から、プローブの高次の共振を用いたAM-FM粘弾性イメージングのほか、信頼性の高いフォースカーブ測定、さらに高速フォースマッピングモードについて、最新情報の紹介をいたします。これらの物性計測において、その測定のばらつきや不確かさを最小限にするために必要なことや、ノウハウについても触れる予定です。

また、Cypher型AFM用に製品化された、理想的なカンチレバー応答を示すフォトサーマル励振技術blueDriveについて、米国アサイラム社の開発責任者であるAleks Labuda博士が講演を行います。粘弾性イメージングに適用した例や環境制御下での測定結果についても紹介いたします。

そして、界面におけるナノサイズの高分子の振る舞いに関する研究で著名な九州大学工学研究院の田中敬二先生をお招きいたします。粘弾性の基礎から、高分子表面や異種相界面におけるAFMをはじめとする局所構造や物性計測評価の現状と今後の可能性についてご講演いただきます。



PS-PCLポリマーブレンドのAM-FM粘弾性マッピング
スキャンサイズは 5μm(左)および 2μm(右)
【セミナー開催概要】
  • 日時:2015年11月20日(金) 13時15分~
  • 場所:オックスフォード・インストゥルメンツ(株)本社 セミナールーム
  • 東京都品川区東品川3-32-42 ISビル 5F
  • 地図 http://www.oxford-instruments.jp/corporate-profile/access-map
  • 参加費:無料
  • 申込み方法:
    1. 弊社ホームページより所定の参加申込み書をダウンロードし必要事項をご記入の上、FAXもしくはメール添付にてお送りください。
    2. E-mailで必要事項(お名前、貴社名、ご所属、住所、電話番号)を記載して、受付メールアドレス宛に送信してください。
弊社ホームページ:www.asylumtec.co.jp

受付メールアドレス:seminar.asylum.jp@oxinst.com

FAX:03‐6732‐8939
セミナープログラム
「アサイラムAFMが提供する高分子界面のナノメカニクス計測と環境制御ソリューション」
時間 テーマ
13:00-13:15 受付
13:15-13:20 開会挨拶
13:20-14:00 AFM製品ラインナップ、環境制御機能と各種測定モード
14:00-14:30 AFMによる最新ナノメカニクス計測技術
~多彩なテクニックで技術者をサポート~
14:30-15:00 フォトサーマル励振技術blueDriveを用いたAFMイメージングとナノメカニクス計測
Dr. Aleks Labuda, Asylum Research(日本語解説付)
15:00-15:20 コーヒーブレイク
15:20-16:20 招待講演
「高分子界面におけるナノメカニクス計測の可能性」
九州大学工学研究院 田中敬二先生
16:20-17:30 実機デモ

さらに詳しい情報については下記までお問い合わせください。

アサイラム リサーチ事業部
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
〒140-0002 東京都品川区東品川 3-32-42 ISビル
Tel: +81 (0) 3 6732 8969
Fax: +81 (0) 3 6732 8939
Email: sales.asylum.jp@oxinst.com

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