土壌試験と土壌中の重金属のスクリーニング

 
蛍光X線(XRF)は、土壌中の重金属汚染物質の迅速な、現場スクリーニングを提供するために、土壌検査において確立された技術です。ハンドヘルド蛍光X線分析装置は、有毒物質と汚染物質の迅速および精密測定などサイト特性コンプライアンススクリーニングに最適なツールです。
 
土壌の環境試験のための分析の必要性とコストを最小限に抑えることができます。

  • 地上もしくはサンプルバッグ内土壌の分析、岩石や粉体の測​​定
  • V、Cr、コバルト、銅、ニッケル、亜鉛、セレン、モリブデン、銀、カドミウム、PG、水銀、アンチ​​モンなどを含む25以上の元素を高精度に決定
  • GPSを統合したサイトマッピング
  • 高速修復の意思決定のためのユーザー定義の制限に合格/不合格のメッセージをクリア
  • サイトマッピングの分析結果と位置データを組み合わせるために、GPS / GISの統合

軽くて頑丈な設計なX-MET7000は、土壌中の重金属の土壌テスト、コンプライアンススクリーニング、スクリーニングのために不可欠な過酷な環境や気象条件にも耐えます。

このアプリケーションのプロダクト

ハンドヘルド蛍光X線(XRF)分析装置 - X-MET7000シリーズ

ハンドヘルド蛍光X線(XRF)分析装置 - X-MET7000シリーズ

広範囲にわたる産業のための信頼性のある正確な材料分析のためのXRFアナライザー