JEOL - Nikon - Oxford Instruments ジョイントセミナー in 東京 2018

会場:
日本電子株式会社 東京支店, 日本
日付:
2018年2月21日
参加する事業部:
分析機器事業部

JEOL - Nikon - Oxford Instruments ジョイントセミナー in 東京 2018

顕微鏡を使ったISO16232:自動車部品の清浄度検査へのアプローチ


【日時】 2018年2月21日(水) 12:45~17:30


【参加費】 無料

【定員】 35名

 

日本電子株式会社 東京支店

東京都千代田区大手町2-1-1
大手町野村ビル18階


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【アクセス】

東京メトロ東西線・都営地下鉄三田線 「大手町」駅 B2a出口直結 徒歩1分(B2a出口:23時まで)
東京メトロ丸の内線・半蔵門線・千代田線 「大手町」駅 A5出口直結 徒歩2分
JR 「東京」駅 丸の内北口 徒歩5分(地下通路経由直結)

お申込み方法とプログラム

 

【お申込み方法】

  1. 本ページ右のご参加登録フォームに必要事項を記載し、”送信”ボタンを押してください。

  2. 必要事項(お名前、貴社名、ご所属、ご住所、電話番号)を記載して、
    受付メールアドレス(na-mail.jp@oxinst.com)に送信してください。

【セミナープログラム】

時間 講演内容
12:15 ~ 12:45 開場
12:45 ~ 12:50 開会のご挨拶
12:50 ~ 13:10

「ISO16232:自動車部品の清浄度検査の概要」

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

13:10 ~ 14:10

「光学顕微鏡法による清浄度検査とコンタミ解析」

株式会社ニコンインステック/三谷商事株式会社

14:10 ~ 15:10

「自動粒子解析(清浄度検査・金属部品介在物・異物解析)における電子顕微鏡」

日本電子株式会社

15:10 ~ 15:25 コーヒーブレーク(休憩、質問タイム)
15:25 ~ 16:25

「SEM-EDS法による自動粒子解析と清浄度検査」

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

16:25 ~ 17:25

「オートモーティブ分野のための検査・分析ソリューション

~X線CTを用いた自動車部品非破壊検査、質量分析計を用いた自動車室内VOC分析、SEM-EBSDを用いた自動車軽量化のための結晶解析~

株式会社ニコンインステック
日本電子株式会社
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

17:25 ~ 17:30 閉会のご挨拶

 

ご参加希望の方は、右の登録フォームにご記入の上、”送信”ボタンをクリックしてください。

ご参加登録

※定員に達したため、ご参加登録を終了させていただきました。

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