JEOL - Nikon - Oxford Instruments ジョイントセミナー in 大阪・名古屋 2017

会場:
大阪会場 7/11、名古屋会場 7/12 (詳しくは詳細ページをご参照ください), 日本
日付:
2017年7月11日 - 2017年7月12日
参加する事業部:
分析機器事業部

JEOL - Nikon - Oxford Instruments ジョイントセミナー in 大阪・名古屋 2017

顕微鏡を使ったISO16232:自動車部品の清浄度検査へのアプローチ


 

大阪会場

 

※※大阪会場は満席に達したため、お申込みを締め切らせていただきました。

【日時】 2017年7月11日(火) 12:45~17:30


【参加費】 無料

【定員】 35名

 

日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター

大阪府大阪市淀川区西中島5丁目14番5号
ニッセイ新大阪南口ビル1階
TEL: 06-6305-0121

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【アクセス】

JR新大阪駅 中央口 徒歩5分
地下鉄御堂筋線 新大阪駅南口(7番出口) 徒歩2分



 

名古屋会場

 

【日時】 2017年7月12日(水)12:45~17:30


【参加費】 無料


【定員】 50名

 

ザ・グランドティアラ名古屋駅前

愛知県名古屋市中村区椿町1-10
TEL: 052-452-2211

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【アクセス】

JR名古屋駅 新幹線口 徒歩90秒

 

お申込み方法とプログラム (両会場 共通)

【お申込み方法】

  1. 本ページ右のご参加登録フォームに必要事項を記載し、”送信”ボタンを押してください。

  2. 必要事項(お名前、貴社名、ご所属、ご住所、電話番号、ご参加の会場名)を記載して、
    受付メールアドレス(na-mail.jp@oxinst.com)に送信してください。

【セミナープログラム】

時間 講演内容
12:15 ~ 12:45 開場
12:45 ~ 12:50 開会のご挨拶
12:50 ~ 13:10

「ISO16232:自動車部品の清浄度検査の概要」
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

13:10 ~ 14:10

「光学顕微鏡法による清浄度検査とコンタミ解析」
株式会社ニコンインステック/三谷商事株式会社

14:10 ~ 15:10

「自動粒子解析(清浄度検査・金属部品介在物・異物解析)における電子顕微鏡」
日本電子株式会社

15:10 ~ 15:25 コーヒーブレーク(休憩、質問タイム)
15:25 ~ 16:25

「SEM-EDS法による自動粒子解析と清浄度検査」

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

16:25 ~ 17:25

「オートモーティブ分野のための検査・分析ソリューション

~X線CTを用いた自動車部品非破壊検査、質量分析計を用いた自動車室内VOC分析、SEM-EBSDを用いた自動車軽量化のための結晶解析~
株式会社ニコンインステック
日本電子株式会社
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

17:25 ~ 17:30 閉会のご挨拶
17:30 ~ 18:30 実機見学、インターフェーシング
(お飲物、お菓子をご準備しております。ご質問タイムとしてご活用ください。)
※大阪会場では実機をご見学いただけます。

 

ご参加希望の方は、右の登録フォームにご記入の上、”送信”ボタンをクリックしてください。

 

ご参加登録

※定員に達したため、ご参加登録を終了させていただきました。