ジョイントセミナー2016

会場:
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター, 日本
日付:
2016年10月5日
参加する事業部:
分析機器事業部

日本電子ーオックスフォード・インストゥルメンツ ジョイントセミナー

オートモーティブ分野のための「SEM-EDS/EBSDプラスMS」分析

※定員に達したため、ご参加登録を終了させていただきました。

 

【日時】 2016年10月5日(水) 12:50~17:30


【参加費】 無料


【会場】
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター

大阪府大阪市淀川区西中島5丁目14番5号
ニッセイ新大阪南口ビル1階
TEL: 06-6305-0121

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【アクセス】

JR新大阪駅 中央口 徒歩5分
地下鉄御堂筋線 新大阪駅南口(7番出口) 徒歩2分

【お申込み方法】

  1. 本ページ右のご参加登録フォームに必要事項を記載し、”送信”ボタンを押してください。

  2. 必要事項(お名前、貴社名、ご所属、ご住所、電話番号)を記載して、
    受付メールアドレス(na-mail.jp@oxinst.com)に送信してください。

【セミナープログラム】

時間 講演内容
12:20 ~ 12:50 開場
12:50 ~ 13:00 開会のご挨拶
13:00 ~ 14:10

「多機能FE-SEM JSM-7200Fを用いた自動車用電子部品のSEM-EDS分析

~低倍率高解像度分析、凹凸サンプルの分析、微小部自動膜厚分析~
日本電子株式会社
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

14:10 ~ 15:10

「SEM-EDSを用いた自動粒子解析

~エンジン摩耗金属、部品清浄度、金属部品介在物、タイヤコード~」
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

15:10 ~ 15:25 コーヒーブレーク(休憩、質問タイム)
15:25 ~ 15:55

「ウィンドウレスEDS検出器 X-Max ExtremeでどこまでLi分析が出来るのか?

~Liイオン電池開発のために~

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

15:55 ~ 16:50

「クロスセクションポリッシャーによる前処理と最新検出器を用いた高速EBSD分析

~金属部品の開発から品質管理まで~
日本電子株式会社
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

16:50 ~ 17:25

「最新卓上TOFMS、TG-MSが切り拓く新たなガス分析の世界
~水素、無機ガス、燃焼ガスのIn-situ、Real-time、On-site分析~」

日本電子株式会社

17:25 ~ 17:30 閉会のご挨拶
17:30 ~ 18:30 実機見学、インターフェーシング
(お飲物、お菓子をご準備しております。ご質問タイムとしてご活用ください。)

 

ご参加希望の方は、右の登録フォームにご記入の上、”送信”ボタンをクリックしてください。

 

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※定員に達したため、ご参加登録を終了させていただきました。