ジョイントセミナー2014

会場:
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター, 日本
日付:
2014年9月17日
参加する事業部:
分析機器事業部

日本電子ーオックスフォード・インストゥルメンツ ジョイントセミナー
『~ソフトマテリアルの表面観察と元素分析~』

【日時】 2014年9月17日(水) 13:00~17:30


【参加費】 無料


【会場】
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター

大阪府大阪市淀川区西中島5丁目14番5号
ニッセイ新大阪南口ビル1階
TEL: 06-6305-0121

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【アクセス】

JR新大阪駅 中央口 徒歩5分
地下鉄御堂筋線 新大阪駅南口(7番出口) 徒歩2分

【お申込み方法】

  1. 本ページ下のご参加登録フォームに必要事項を記載し、”送信”ボタンを押してください。

  2. 必要事項(お名前、貴社名、ご所属、ご住所、電話番号)を記載して、
    受付メールアドレス(na-mail.jp@oxinst.com)に送信してください。

【セミナープログラム】

時間 講演内容
12:00 ~ 13:00 会場(実機のご見学も可能です。)
13:00 ~ 13:10 開会のご挨拶
13:10 ~ 14:05

「超高分解能FE-SEMを用いたソフトマテリアル観察」
日本電子株式会社

14:05 ~ 15:00

「大口径EDS、マルチEDSを用いたソフトマテリアル表面分析」
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
分析機器事業部

15:00 ~ 15:10 コーヒーブレーク(休憩、質問タイム)
15:10 ~ 15:50

「AFMを用いた高分子材料の表面観察」
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
アサイラムリサーチ事業部

15:50 ~ 16:20

「XRFを用いたバルク有機材料中のハロゲン元素の定量分析」
日本電子株式会社

16:20 ~ 16:25 閉会のご挨拶
16:25 ~ 17:30 実機見学、インターフェーシング
(お飲物、お菓子をご準備しております。ご質問タイムとしてご活用ください。)

 

ご参加希望の方は、下記の登録フォームにご記入の上、”送信”ボタンをクリックしてください。

 

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