日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会

会場:
幕張メッセ 国際会議場, 日本
日付:
2014年5月11日 - 2014年5月13日
参加する事業部:
分析機器事業部
Website:
www.microscopy.or.jp/conf2014

機器展示では最新のEDS・EBSD・WDS分析システムをご紹介。
目玉のランチョンセミナーでは大面積EDS検出器 X-MaxNシリーズのの最新機能についてご紹介します。

皆様のご来場をお待ちしております。

  • 機器展示会場 2F コンベンションホール

  • ランチョンセミナー
    2014年5月13日(火)12:00~13:00 F会場(幕張メッセ 国際会議場1F 103)

    「X-MaxN ~ さらなる高感度化の実現~」

ご好評をいただいている大面積EDS検出器X-MaxNシリーズは、さらに高性能・高感度化を実現し、
進化を続けています。ランチョンセミナーでは、その最新情報を皆様へご紹介いたします。