AZtecセミナー2013

会場:
日本
日付:
2013年10月11日
参加する事業部:
分析機器事業部

『nmスケールからmmスケールまで ~広領域マッピング~』

2013年10月11日(金)10:30~16:10(開場 10:00)

【参加費】 無料

【会 場】 東京国際フォーラム ガラス棟会議室(G610)

 

【アクセス】

  • JR有楽町駅より徒歩1分、JR東京駅より徒歩5分
    地下鉄 日比谷線 / 丸ノ内線 銀座駅より徒歩5分

【セミナー概要】

  • 微小寸法材料の特性評価や局所領域破壊制御の研究で著名な、上野 明 先生(立命館大学)が最新のEDS、EBSDを用いた材料評価技術について御講演下さいます。

  • 今夏リリースした新しいAZtecの機能について、詳しくご紹介いたします。

【参加お申込み方法】

  • ご参加希望の方は、下記の登録フォームにご記入の上、”送信”ボタンをクリックしてください。

【プログラム】

時間 テーマ
10:30-10:40 開会のご挨拶
10:40-11:20

「AFM製品のご紹介(アサイラム リサーチ事業部)」

11:20-12:00

「AZtecラインナップのご紹介」

12:00-13:15 昼食 ※会場に準備いたします。
13:15-13:45

「AZtecEnergy2.2 - 新機能・マルチ検出器EDSシステム」

13:45-14:15

「AZtecLAM - 広域マッピング」

14:15-14:45

「AZtecHKL - 広域マッピングとリファイン機能」

14:45-15:00 コーヒーブレーク
15:00-15:45

招待講演
「材料開発および材料強度評価における
EDS, EBSDの活用事例」

立命館大学 上野 明 先生

15:45-16:00 質疑応答
16:00-16:10 閉会のご挨拶

ご参加希望の方は、下記の登録フォームにご記入の上、”送信”ボタンをクリックしてください。

 

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