オックスフォード・インストゥルメンツ 分析機器事業部はナノメータースケールの材料評価を実現する最先端装置を提供しています。

電子顕微鏡(SEMやTEM)そしてイオンビームシステム(FIB)に装着される弊社の装置は、半導体や再生可能エネルギー、鉱業、金属学、そして方位学など、学術研究から工業向けのアプリケーションまで幅広い分野で使用されています。

お問合せ

追加の 分析機器事業部