オックスフォード・インストゥルメンツ・インダストリアル・アナリシス事業部は、日立ハイテクノロジーグループに加わりました。

XRF (X-ray Fluorescence) is a proven technique for material analysis in a broad range of industries and applicationsXRFについて

X線は、電磁気スペクトルの一部を形成し、エネルギー(キロ電子ボルトkeV)または波長(ナノメーターnm)に言い換えられて表現されます。
XRF(蛍光X線分析)は原子内で起こる変化の結果です。
安定原子は、原子核と軌道電子で構成されます。
軌道電子は、原子殻に編成されています。
各々の殻は同じエネルギーを持つ軌道電子から構成されます。
この安定性を乱す原子と高い入射エネルギー(一次)X線が衝突すると、電子が低エネルギーレベル(例えばK核の場合:図を参照)から排出され空間が作られます。その結果、より高いエネルギーレベル(例えばL殻)からの電子は、この空間に落ちます。

これらのエネルギーレベル間の電子移動に伴って発生されるエネルギーの差は、元素の特長である二次X線として放出されます。このプロセスは、蛍光X線と呼ばれています。

XRFは、広範囲の産業およびアプリケーションでの物質分析に用いられる実証された技術です。 ※その分析範囲は、PMI検査金属スクラップの分別、油中の硫黄分測定、金属処理および合金の膜厚分析など、エレクトロニクスや消費材業界での品質管理に用いられています。

XRFによる分析の利点は次のとおりです。

  • サンプル前伊処理はほとんど必要ありません。
  • 非破壊的分析をすることができます。
  • Na(ナトリウム)からU(ウラン)までの、高濃度域のppmの分析をすることができます。
  • 湿式化学なし(酸、試薬なし)で分析を行うことができます。
  • 固体、液体、粉末、フィルム、顆粒剤等の分析を行うことができます。
  • 分単位で迅速に分析結果を出すことができます。
  • 定性的、半定量的、または完全定量な分析を行うことができます。
  • ルーチンの品質管理分析装置については、 "誰でも使用"することができます。

XRFは、幅広い業界やアプリケーションにとって、迅速かつ正確な品質管理の方法として簡単に用いることができます。